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    • 兩箱式冷熱沖擊試驗箱 -70℃~150℃寬域測試

      兩箱式冷熱沖擊試驗箱 -70℃~150℃寬域測試專為電子元器件研發、生產及質檢環節打造,能夠實現 -70℃至 150℃寬溫度范圍的極速溫變測試,精準模擬電子元器件在環境下的工作狀態。設備可有效檢測元器件焊點的可靠性、材料的熱膨脹性能、絕緣材料的耐溫性等關鍵指標,幫助企業提前發現因溫度應力導致的接觸不良、開裂、老化等潛在問題。其快速的溫度轉換能力與高精度控溫技術。

      更新時間

      2025-12-30

      設備型號

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    • 半導體芯片冷熱沖擊試驗箱 檢測封裝可靠性

      半導體芯片冷熱沖擊試驗箱 檢測封裝可靠性主要用于檢測半導體芯片封裝的可靠性。通過施加極速的溫度變化應力,能夠有效激發并識別因材料不匹配、焊接疲勞、封裝裂紋、接觸不良等引起的早期失效,是產品質量驗證、可靠性提升及壽命評估工具。

      更新時間

      2025-12-30

      設備型號

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    • TSD-80F-2P可移動高低溫冷熱沖擊試驗箱

      可移動高低溫冷熱沖擊試驗箱是一種專為測試產品在溫度快速交替變化環境下的耐受性而設計的精密設備。其高度集成化與移動式設計,使其能夠靈活部署于實驗室、生產線或現場等多種場所,無需復雜的安裝固定。

      更新時間

      2026-02-03

      設備型號

      TSD-80F-2P

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      843

    • TSD-150F-2P不銹鋼高低溫冷熱沖擊試驗箱

      不銹鋼高低溫冷熱沖擊試驗箱是一種精密的環境可靠性測試設備。它通過模擬產品在極短時間內,經受高溫和低溫交替變化的嚴酷環境,來加速暴露產品的潛在缺陷,如材料開裂、性能失效、焊點疲勞、接觸不良等。

      更新時間

      2025-12-30

      設備型號

      TSD-150F-2P

      瀏覽量

      1001

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