立式烤箱
應(yīng)用于電子業(yè)（硅橡膠、噴涂、半導(dǎo)體、LCM、LCD、LED、MLCC、TFT、精密陶瓷、石英振蕩器）電解電容、橡塑料鍵盤、計算機等；電機、運動器材、印刷、制藥、鞋業(yè)、汽車零配件、通訊、五金、化工等工業(yè)之烘烤、干燥預(yù)熱回火、老化等用途。

立式烤箱

特點簡介：
1、外采用SECC鋼板，精粉體烤漆處理，內(nèi)為SUS不銹鋼；
2、操作手續(xù)簡便，溫度均勻度佳；
3、耐真空度高達5×10—3Torr；
4、氣閥及進氣閥采用球閥，使用方便，緊密性高；
5、超溫保護、超負載自動斷電；
6、硅膠迫緊緊（Silicon　Packing）；
7、循環(huán)方式，熱幅射及自然對流；
適用于普通烘干、真空灌封、水分測試、固化、調(diào)節(jié)及脫水等。

立式烤箱

使用條件:

1．使用壓：AC220±22V           頻率：50±1Hz

2. 使用環(huán)境溫度： 5～40℃         環(huán)境濕度：≤85%R.H

3. 周圍無強烈震動，無腐蝕性氣體和易燃易爆的氣體存在。

主要技術(shù)參數(shù):

在室溫25℃，空載時.

a)溫度范圍：常溫R.T+10℃～+200℃

b)溫度波動度：±0.5℃

c)溫度均勻度：±2.0%

d)工作室尺寸：500×550×500mm （W×H×D）

e)功    率：約3KW

執(zhí)行標準:

GB10589-2006 低溫試驗箱技術(shù)條件

GB10592-2006-40℃高低溫實驗箱技術(shù)條件

GB11158-2006 高溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T2423.1-2001 試驗A：低溫試驗方法

GB/T2423.2-2001 試驗B：高溫試驗方法

GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法