HAST非飽和老化測試箱是一種用于評估電子元器件、半導體封裝及高分子材料在高溫、高濕、高壓環境下可靠性的測試設備。與傳統飽和型HAST不同，非飽和技術通過精確控制蒸汽壓力與溫度，避免測試過程中產生凝露，從而更真實地模擬實際使用環境，同時防止產品因水滴附著而發生短路或物理損傷。

HAST非飽和老化測試箱生產廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業的生產研發技術，一站式周到服務。作為一家專注于試驗設備產品的大型儀器制造商，皓天設備致力于為消費者提供技術、品質的優秀產品。

產品詳情

非飽和老化測試箱，全稱高加速非飽和蒸汽應力試驗箱，是一種用于評估電子元器件、半導體封裝及高分子材料在高溫、高濕、高壓環境下可靠性的測試設備。與傳統飽和型HAST不同，非飽和技術通過精確控制蒸汽壓力與溫度，避免測試過程中產生凝露，從而更真實地模擬實際使用環境，同時防止產品因水滴附著而發生短路或物理損傷。

設備內膽采用優質SUS316L不銹鋼，耐腐蝕性強；門體配備防爆安全鎖與多重壓力保護系統，確保長時間高壓測試的安全性。控制系統采用7英寸彩色觸摸屏與可編程邏輯控制器，支持多段溫濕度曲線設定及實時數據記錄。

HAST非飽和老化測試箱

用途

本設備主要用于評估IC封裝、MEMS傳感器、LED、PCB板及光伏組件等在高溫高濕高壓條件下的耐候性與壽命。通過加速環境應力，幫助制造商快速發現產品潛在的失效模式，如分層、腐蝕、電化學遷移及密封失效等。

技術參數

• 溫度范圍：+105℃ ~ +142.9℃

• 濕度范圍：75%RH ~ 98%RH（非飽和狀態）

• 壓力范圍：0.2kg/cm2 ~ 3.0kg/cm2

• 溫濕度均勻度：±0.5℃ / ±3%RH

• 內箱材質：SUS316L鏡面不銹鋼

• 控制系統：PLC + 7英寸HMI彩色觸摸屏

• 安全保護：防爆泄壓閥、超溫保護、缺水報警、門鎖聯鎖

主要功能及特點

• 非飽和控制技術：精準控制蒸汽飽和度，避免凝露對樣品的物理損傷。

• 偏壓測試功能：可選配偏壓測試系統，在線監測樣品在應力下的電性能變化。

• 多段編程：支持100組程序，每組100段，滿足復雜測試需求。

• 數據追溯：標配USB接口與RS485通訊，支持歷史數據導出與遠程監控。

應用場景

• 半導體封裝廠新品研發階段的壽命評估

• PCB/PCBA行業可靠性驗證與失效分析

• 高校材料實驗室高分子材料吸濕與膨脹測試

• 第三方檢測機構JEDEC標準符合性認證

技術特點

• 防凝露結構設計：獨特的蒸汽循環路徑，保證樣品表面干燥。

• 快速恢復系統：開門取放樣品后，溫濕度可在5分鐘內恢復設定值。

• 安全冗余設計：機械式與電子式雙重超壓保護，確保長期無人值守運行。