產(chǎn)品中心
當前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > > HAST加速老化試驗箱 > 高穩(wěn)定性HAST高壓高濕老化箱
產(chǎn)品型號:
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
更新時間:2026-03-19
訪 問 量:756產(chǎn)品分類CLASSIFICATION
詳細介紹
| 品牌 | 廣皓天 | 價格區(qū)間 | 5萬-10萬 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,汽車及零部件,電氣 |
HAST高壓高濕老化箱是一款專為電子元器件加速壽命試驗設(shè)計的高加速應(yīng)力試驗設(shè)備。該設(shè)備采用圓型壓力容器結(jié)構(gòu),內(nèi)箱采用SUS304/SUS316不銹鋼材質(zhì),雙層圓弧設(shè)計可有效防止試驗結(jié)露滴水現(xiàn)象。配備7寸真彩觸控屏,支持250組12500段程序設(shè)定,具備USB數(shù)據(jù)導出及RS-485通訊接口。整機符合GB/T2423.40、IEC60068-2-66、JESD22-A110等國際測試標準。
本設(shè)備主要用于IC封裝、半導體、微電子芯片、磁性材料、PCB線路板等電子零件進行高溫、高濕、高壓環(huán)境下的加速壽命信賴性試驗。通過模擬嚴苛的溫濕度壓力環(huán)境,快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié),測試其密封性能和老化的可靠性。
溫度范圍:+105℃~+145℃(蒸氣溫度)
濕度范圍:65%~100%RH(可調(diào))
壓力范圍:0.5~3.0Kg/cm2(表壓力)
溫度波動度:±0.5℃
濕度波動度:±2.0%~±2.5%RH
升溫時間:常溫至132℃約35分鐘
升壓時間:常壓至2Kg/cm2約40分鐘
控制器:微電腦PID+SSR自動演算,觸摸屏控制
高穩(wěn)定性溫濕度控制:采用干濕球傳感器直接測量,控制模式分為干濕球、不飽和、濕潤飽和3種模式,確保試驗參數(shù)的精準性和再現(xiàn)性。
防結(jié)露圓弧內(nèi)膽:內(nèi)膽采用雙層圓弧設(shè)計,防止試驗結(jié)露滴水,避免產(chǎn)品受過熱蒸汽直接沖擊。
全自動補水系統(tǒng):試驗開始時自動加足所需用水,水位過低時自動補水,確保試驗不中斷。
多重安全保護:具備超壓超溫保護、干燒保護、缺水報警、緊急泄壓等多重安全機制。
緩降壓處理:試驗結(jié)束后可選排氣排水模式,防止樣件受到急劇壓力變化影響。
高效真空泵:使箱內(nèi)達到純凈飽和蒸汽狀態(tài)。
汽車級硅膠密封條:氣密性好,內(nèi)箱壓力愈大時密封愈緊密,使用壽命長。
偏壓測試功能(選配):可配置8~55條偏壓端子,滿足帶偏壓的HAST試驗需求。
干燥功能:試驗終止采用電熱干燥設(shè)計,確保待測品干燥穩(wěn)定。
數(shù)據(jù)追溯:USB接口直接拷貝歷史曲線和數(shù)據(jù),便于分析。
應(yīng)用場景:適用于產(chǎn)品設(shè)計階段的缺陷暴露、量產(chǎn)階段的可靠性抽檢、失效分析研究以及質(zhì)量認證測試。
應(yīng)用領(lǐng)域:廣泛用于IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、光伏組件、LED光電、MEMS傳感器等行業(yè)。




產(chǎn)品咨詢
掃碼加微信